爐溫測(cè)試儀在工業(yè)領(lǐng)域有著重要的作用，它的損壞對(duì)生產(chǎn)有較大的影響，一般造成爐溫測(cè)試儀損壞的原因有連接器損壞、充電充爆主板、高溫?fù)p壞、機(jī)械損傷等，因損壞造成的故障常見(jiàn)的有不能與電腦通訊、不能下載數(shù)據(jù)、制程界限數(shù)據(jù)不能保存、不能開(kāi)機(jī)、開(kāi)機(jī)一直叫等。下面一起來(lái)了解一下?tīng)t溫測(cè)試儀損壞的原因有哪些吧。

一、爐溫測(cè)試儀損壞的原因有哪些

爐溫測(cè)試儀是一種用于爐溫測(cè)試的儀器，又叫爐溫曲線(xiàn)測(cè)試儀，主要用于測(cè)試各種工業(yè)爐內(nèi)的溫度，并可生成溫度曲線(xiàn)進(jìn)行分析，在生產(chǎn)中非常重要。爐溫測(cè)試儀損壞會(huì)影響生產(chǎn)，一般導(dǎo)致?tīng)t溫測(cè)試儀損壞的主要原因有：

1、連接器損壞

爐溫測(cè)試儀下載連接器損壞，在插拔時(shí)不要上下?lián)u擺插拔，會(huì)導(dǎo)致連接器與爐溫測(cè)試儀主板焊接點(diǎn)松動(dòng)、引腳斷裂。

2、充電充爆主板

爐溫測(cè)試儀在充電的時(shí)候要采用原裝充電器或者配置參數(shù)一樣的充電器。偶爾遇到個(gè)別拿著充電器就用，結(jié)果因?yàn)槌潆娖麟娏鬟^(guò)大，充爆主板。

3、高溫?fù)p壞

（1）放進(jìn)烤箱、回流焊、波峰焊、隧道爐等高溫環(huán)境，需要蓋緊隔熱盒。且關(guān)注進(jìn)爐出爐的時(shí)間，避免爐溫測(cè)試儀卡在爐腔內(nèi)不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)，導(dǎo)致高溫?fù)p壞。

（2）隔熱盒有溫度、時(shí)間限制?；亓鳡t爐溫測(cè)試儀通常是在恒溫300℃耐溫9分鐘，如果主機(jī)和隔熱盒沒(méi)有冷卻到位就連續(xù)測(cè)爐溫，就會(huì)導(dǎo)致?tīng)t溫測(cè)試儀高溫?fù)p壞。

（3）很多用戶(hù)理解錯(cuò)爐溫測(cè)試儀含義，爐溫測(cè)試儀測(cè)量范圍是-200℃~1200℃，是指k型測(cè)溫線(xiàn)能采集的溫度范圍，而不是此爐溫測(cè)試儀能使用的溫度范圍。使用范圍與爐溫測(cè)試儀的隔熱盒性能和測(cè)溫線(xiàn)耐溫性有關(guān)，被測(cè)環(huán)境溫度時(shí)長(zhǎng)不能超出隔熱盒性能，否則就高溫?fù)p壞、甚至報(bào)廢。

4、機(jī)械損傷

爐溫測(cè)試儀通常需要安裝在生產(chǎn)線(xiàn)上或設(shè)備上，容易被機(jī)械損傷。例如，在安裝或拆卸爐溫測(cè)試儀的過(guò)程中，如果使用不當(dāng)或暴力操作，可能會(huì)導(dǎo)致傳感器或其他部件損壞。此外，如果生產(chǎn)線(xiàn)上有振動(dòng)或沖擊，也可能會(huì)對(duì)爐溫測(cè)試儀造成影響，導(dǎo)致其損壞。

5、環(huán)境因素

爐溫測(cè)試儀通常需要在干燥、無(wú)塵、無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾的環(huán)境中使用。如果爐溫測(cè)試儀長(zhǎng)時(shí)間暴露在惡劣的環(huán)境中，可能會(huì)導(dǎo)致傳感器或其他部件受潮、腐蝕或被磁場(chǎng)干擾，進(jìn)而導(dǎo)致測(cè)溫儀損壞。